[发明专利]氧化物半导体及其制造方法无效
申请号: | 201210342862.3 | 申请日: | 2012-09-14 |
公开(公告)号: | CN102832235A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 兰林锋;肖鹏;彭俊彪 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学;广州新视界光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/24 | 分类号: | H01L29/24;H01L29/10;H01L29/786;H01L21/203;H01L21/336 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一类可抑制过剩的本征载流子,且电学稳定性高氧化物半导体。本发明实施例的包括:AlxInyZnz氧化物和微量掺杂物;所述微量掺杂物包括:稀土元素,稀土元素的氧化物,4B族元素,4B族元素氧化物,5B族元素或5B族元素氧化物中的任意一种或两种以上的组合。 | ||
搜索关键词: | 氧化物 半导体 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种氧化物半导体,其特征在于,包括:AlxInyZnz氧化物和微量掺杂物;所述x,y和z表示AlxInyZnz氧化物中铝(Al),铟(In)和锌(Zn)的原子比;其中,0.01≤x≤0.2,0.3≤y≤0.7,0.3≤z≤0.7,并且x+y+z=1;所述微量掺杂物包括:稀土元素,稀土元素的氧化物,4B族元素,4B族元素氧化物,5B族元素或5B族元素氧化物中的任意一种或两种以上的组合。
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