[发明专利]一种综合孔径辐射计图像反演方法

摘要

本发明公开了一种综合孔径辐射计图像反演方法，该方法包括根据目标场景的可见度数据V和辐射计的冲击响应矩阵G获得可见度的概率测度初始值β和不同像素点i的概率测度初始值ai，计算GTG矩阵的特征值λi；计算后验概率的均值u和后验概率的方差∑T|V，更新β和a并判断可见度的概率测度更新值βnew和概率测度更新值anew是否同时收敛，若是则将可见度的概率测度更新值βnew、概率测度更新值anew、后验概率的均值u和后验概率的方差∑T|V代入公式p(T|G，anew，βnew)＝N(T|u，∑T|V)获得亮温图像分布T，若否，则返回进一步计算u和∑T|V。本发明能够有效的降低获得最优模型的计算复杂度，得到方差和偏差都较小的反演结果，减少噪声对反演结果的影响，有效的提高反演图像的分辨率，是一种可以自动的选取最优模型的综合孔径图像反演方法。

主权项

1.一种综合孔径辐射计图像反演方法，其特征在于，包括下述步骤：S1：将目标场景的可见度数据V和辐射计的冲击响应矩阵G分别代入p(V|G，T，β)＝N(V|GT，β^-1I_n)和中获得可见度的概率测度初始值β和不同像素点i的概率测度初始值a_i；式中n为所有可见度采样样本数，T_i为不同像素点i的亮温值，T为亮温图像分布；p(T|a)表示亮温图像分布T的先验概率，m为亮温图像的像素总数；a＝[a₁，…，a_m]^T；I_n表示n维单位矩阵；S2：将所述冲击响应矩阵G代入G^TGz_i＝λ_izi中获得G^TG矩阵的特征值λ_i；S3：将所述可见度的概率测度初始值β和概率测度初始值a代入p(T|G，a，β)＝N(T|u，∑_T|V)中得出后验概率的均值u和后验概率的方差∑_T|V；S4：将所述特征值λ_i、所述可见度的概率测度初始值β、不同像素点i的所述概率测度初始值a_i和所述后验概率的均值u代入和得到可见度的概率测度更新值β^new和不同像素点i的概率测度更新值其中，u_i为向量u的第i个元素，S5：判断所述可见度的概率测度更新值β^new和概率测度更新值a^new是否收敛；若同时收敛，则进入步骤S6：，若否，则返回步骤S3；S6：将所述可见度的概率测度更新值β^new、所述概率测度更新值a^new、后验概率的均值u和后验概率的方差∑_T|V代入公式p(T|G，a^new，β^new)＝N(T|u，∑_T|V)获得亮温图像分布T。