[发明专利]一种印章校验方法及其装置

摘要

本发明涉及一种印章校验方法及其装置，装置包括：环形分布的n组光源、摄像机、控制处理电路；校验方法包括如下步骤：n组光源按时序轮流开启对印章的印模进行闪光曝光，摄像机随曝光同步拍摄，得到n幅电子图像Fi，比较n幅电子图像的明暗程度值，从中选出最亮的电子图像Flight、和最暗的电子图像Fdark；将最亮的电子图像Flight与最暗的电子图像Fdark对齐进行图像像素叠加合成；将合成电子图像Ftarget与所存储的目标图像和目标参数进行校验核对，发出校验通过或校验拒绝的信号。本发明能够大幅缩减每日校验印章的人工操作的工作量，极大提升印章校验效率，降低校验出错几率，简化操作，大幅推进办公无纸化和降低纸张的日常消耗。

主权项

一种印章校验方法，其采用印章校验装置对印章进行校验，所述印章校验装置包括：环形分布地向所述印章的印模投射光线的n组光源、对所述印模进行摄像的摄像机、控制n组光源和摄像机协同工作并处理印模图像的控制处理电路；所述控制处理电路包括微处理器和与之连接的存储印章参数的存储模块，所述校验方法包括如下步骤：X1)稳置所述印章并显露其印模；X2)n组光源按时序轮流开启对所述印章的印模进行闪光曝光，摄像机随曝光同步拍摄，得到n幅电子图像Fi，其中i＝1、2...n‑1，n；X3)所述控制处理电路比较n幅电子图像的明暗程度值，从中选出最亮的电子图像Flight、和最暗的电子图像Fdark；X4)所述控制处理电路将最亮的电子图像Flight与最暗的电子图像Fdark对齐，然后进行图像像素叠加合成，得到克服印模上污垢影像干扰的合成电子图像Ftarget；X5)所述控制处理电路将合成电子图像Ftarget与所存储的目标图像和目标参数进行校验核对，发出校验通过或校验拒绝的信号。