[发明专利]一种回转体零件的截面尺寸测量方法有效

专利信息
申请号: 201210352231.X 申请日: 2012-09-20
公开(公告)号: CN102873587A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 王晓兵;孟凡桐;赵凯;杨建华 申请(专利权)人: 湖北三江航天险峰电子信息有限公司
主分类号: B23Q17/20 分类号: B23Q17/20
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李佑宏
地址: 432100*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种用于测量具有多半径的回转体零件半径尺寸的方法,包括:对测头进行标定,以确定出测头测球中心偏离机床的主轴回转中心线的偏离误差的第一步骤,以及根据所确定的偏离误差进行补偿从而得到精确尺寸的第二步骤;其中,所述第一步骤中,具体包括:首先利用千分尺测量回转体两不同半径截面处的精确半径;再利用所述机床测头标定其中一截面处半径,并测量出另一截面处的半径的测量值,进而得到该另一截面处测量值与实际值的误差;最后,利用该误差及两半径截面处的精确半径,计算得到测球中心的偏离误差。本发明可以实时在线地准确测量出零件尺寸,使加工中的零件的检测精度得到很大的提高,在机床加工测量中具有广泛的应用前景。
搜索关键词: 一种 回转 零件 截面 尺寸 测量方法
【主权项】:
一种回转体零件的截面尺寸的测量方法,其通过确定机床测头的安装偏离误差,实现对具有多个不同截面尺寸的回转体零件的各截面半径的精确测量,该方法具体包括:对测头进行标定,以确定出测头的测球中心偏离机床的主轴回转中心线之偏离误差的第一步骤,以及根据所确定的偏离误差进行补偿从而得到精确尺寸的第二步骤;其中,所述第一步骤中,具体包括:首先利用千分尺测量回转体两不同截面处的精确半径;再利用所述机床测头标定其中一截面处半径,并测量出另一截面处的半径的测量值,进而得到该另一截面处测量值与实际值的误差;最后,利用该误差及两半径截面处的精确半径,计算得到测球中心的偏离误差。
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