[发明专利]欠压锁存电路无效

专利信息
申请号: 201210354245.5 申请日: 2012-09-21
公开(公告)号: CN103684356A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 王晓娟;周晓东;王纪云 申请(专利权)人: 郑州单点科技软件有限公司
主分类号: H03K3/013 分类号: H03K3/013
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 450016 河南省郑州市经*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种欠压锁存电路。该电路的肖特基势垒二极管的阳极接地,阴极接第一PMOS晶体管的栅极、第二PMOS晶体管的栅极、第一NMOS晶体管的栅极和第二NMOS晶体管的栅极并通过RC电路接电压源;欠压锁存电压信号输出端接第二PMOS晶体管的漏极、第一NMOS晶体管的漏极、第三POS晶体管的栅极和第三NMOS晶体管的栅极;第一PMOS晶体管的源极接电压源,漏极接第二PMOS晶体管的源极和第三PMOS晶体管的源极;第二NMOS晶体管的源极接地,漏极接第一NMOS晶体管的源极和第三NMOS晶体管的源极;第三PMOS晶体管的漏极接地;第三NMOS晶体管的漏极接电压源。结构简单,节省成本,功耗低。
搜索关键词: 欠压锁存 电路
【主权项】:
一种欠压锁存电路,包括欠压锁存电压信号输出端(Vout),其特征在于,还包括三只PNP晶体管(P1~P3)、三只NPN晶体管(N1~N3)、肖特基势垒二极管(Z1)以及由电容(C1)和电阻(R1)并联构成的RC电路;所述肖特基势垒二极管(Z1)的阳极接地(GND),阴极连接至第一PMOS晶体管(P1)的栅极、第二PMOS晶体管(P2)的栅极、第一NMOS晶体管(N1)的栅极和第二NMOS晶体管(N2)的栅极,该阴极还通过RC电路连接至电压源(VDD);欠压锁存电压信号输出端(Vout)连接至第二PMOS晶体管(P2)的漏极、第一NMOS晶体管(N1)的漏极、第三POS晶体管(P3)的栅极和第三NMOS晶体管(N3)的栅极;所述第一PMOS晶体管(P1)的源极连接至电压源(VDD),漏极连接至第二PMOS晶体管(P2)的源极和第三PMOS晶体管(P3)的源极;所述第二NMOS晶体管(N2)的源极接地(GND),漏极连接至第一NMOS晶体管(N1)的源极和第三NMOS晶体管(N3)的源极;所述第三PMOS晶体管(P3)的漏极接地(GND);所述第三NMOS晶体管(N3)的漏极连接至电压源(VDD)。
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