[发明专利]集成电路测试数据查询系统及查询方法无效
| 申请号： | 201210355681.4 | 申请日： | 2012-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN102866348A | 公开（公告）日： | 2013-01-09 |
| 发明（设计）人： | 徐正元 | 申请（专利权）人： | 成都市中州半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 611731 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提出一种集成电路测试数据查询系统，包括一查询设备、一与所述查询设备相连的测试仪阵列、一与所述测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与所述测试机台阵列相连的被测器件阵列。本发明还公开了一种集成电路测试数据查询方法。本发明解决了查询设备和测试仪之间的布线问题，可使用远程控制，使得测试更为高效便捷，并可采用一台控制设备控制多个测试仪，提高测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试数据 查询 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路测试数据查询系统，其特征在于：所述集成电路测试系统数据查询系统包括一查询设备、一与所述查询设备相连的带无线通讯模块的测试仪阵列、一与所述测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与所述测试机台阵列相连的被测器件阵列，所述带无线通讯模块的测试仪阵列包括N个带无线通讯模块的测试仪，所述测试机台阵列包括N个测试机台，所述被测器件阵列包括N个被测器件，其中N≥1，所述带无线通讯模块的测试仪、所述测试机台、所述被测器件一一对应串行连接。
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