[发明专利]高电阻率铁磁材料缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201210357928.6 | 申请日： | 2012-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN102879420A | 公开（公告）日： | 2013-01-16 |
| 发明（设计）人： | 侯德鑫;叶树亮 | 申请（专利权）人： | 中国计量学院 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 杜军 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种对高电阻率铁磁材料的裂纹、气泡等缺陷进行无损检测的方法。本发明基本检测流程是将检测对象置于交变磁场中交流磁化使其温度升高，同时采用红外热像仪实时获取热图像，根据缺陷引起的温度场分布异常检测缺陷。相比较已公开的热成像无损检测方法，本发明主要特征是热激励手段不同，通过铁磁材料在交流磁化过程中的磁滞损耗来实现。本发明所述方法可以在非接触的情况下对检测对象从内部进行加热进而检测缺陷，并且不要求检测对象导电，特别适合于铁氧体等高电阻率铁磁材料缺陷检测。 | ||
| 搜索关键词： | 电阻率 材料 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
高电阻率铁磁材料缺陷检测方法，包括对检测对象进行热激励，采用热像仪获取检测对象在检测过程中的热图像序列，然后通过分析热图像序列判断缺陷是否存在，并确定缺陷位置，其特征在于，所述热激励具体为：将检测对象置于交变磁场中进行交流磁化，利用检测对象的磁滞损耗从内部进行加热，并引起表面温度升高。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量学院，未经中国计量学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210357928.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
