[发明专利]一种光纤Shupe常数测试装置及其方法

摘要

本发明公开了一种光纤Shupe常数的测试装置及其方法。该装置包括激光光源，密闭恒温减振系统，温度控制系统，光探测器，数字信号处理系统，包括光纤耦合器、参考臂、测量臂、被测光纤和法拉第转镜的迈克尔逊干涉光路。激光光源发出的光经光纤耦合器均分为两束分别进入参考臂和测量臂，并被远端法拉第转镜反射后返回，经光纤耦合器进入光探测器，得到干涉信号。该方法采用上述装置，通过升温-恒温监测-被动冷却降温的方式对光纤变温进行控制，得到实验数据，从而得到Shupe常数。本发明结构简单、测量精度高、可靠性好；设计采用全光纤结构，抗干扰能力强；可在光纤陀螺绕环前单独测量光纤的Shupe常数，评价光纤环全温稳定性。

主权项

一种光纤Shupe常数测试装置，其特征在于，该装置包括如下器件：激光光源(1)、迈克尔逊干涉光路(2)、密闭恒温减振系统(8)、温度控制系统(9)、光探测器(10)和数字信号处理系统(11)；迈克尔逊干涉光路(2)包括光纤耦合器(3)、参考臂(4)、测量臂(5)、被测光纤(6)和法拉第转镜(7)；被测光纤(6)放置在温度控制系统(9)中，光纤耦合器(3)、参考臂(4)、测量臂(5)和法拉第转镜(7)放置在密闭恒温减振系统(8)中；激光光源(1)和光探测器(10)分别通过光纤连接光纤耦合器(3)，被测光纤(6)采用尾纤熔接方式或者光纤适配器即插即用方式接入测量臂(5)，位于密闭恒温减振系统(8)中的参考臂(4)和测量臂(5)是相互平行设置的，经过的空间位置一致，参考臂(4)的一端和测量臂(5)的一端都与光纤耦合器(3)连接，参考臂(4)的另一端的端末和测量臂(5)的另一端的端末都设置有法拉第转镜(7)；激光光源(1)发出的光由光纤耦合器(3)等分成两束，一束光进入参考臂(4)稳定传输，另一束光进入测量臂(5)在待测光纤(6)中传输，两束光分别被法拉第转镜(7)反射，在光纤耦合器(3)处发生干涉，干涉光强经过光纤耦合器(3)进入光探测器(10)，光探测器(10)将得到的干涉信号输出给数字信号处理系统(11)。