[发明专利]带抗反射膜的玻璃基材在审
申请号: | 201210359416.3 | 申请日: | 2012-09-24 |
公开(公告)号: | CN103130420A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 日向野怜子;泉礼子;林芳昌;山崎和彦 | 申请(专利权)人: | 三菱综合材料株式会社 |
主分类号: | C03C17/34 | 分类号: | C03C17/34;H01L31/048 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 康泉;王珍仙 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的在于提供一种带抗反射膜的玻璃基材,将含有Na、Ca的钠钙玻璃等通用玻璃用作高耐久性带抗反射膜的玻璃基材。即,本发明的目的在于提供一种通过提供抗反射功能来增加入射光的透射量,并且抑制在高温高湿下玻璃基材中的Na或Ca向抗反射膜表面扩散,从而抑制抗反射膜的白浊的带抗反射膜的玻璃基材。本发明的带抗反射膜的玻璃基材(1),为在表面具备抗反射膜(3)的玻璃基材(2),其特征在于,玻璃基材(2)含有至少1种选自Na及Ca中的碱金属;抗反射膜(3)含有SiO2且折射率为1.35~1.50;并且在玻璃基材(2)表面与抗反射膜(3)的界面具备含有1~12原子%的P的扩散抑制膜(4)。 | ||
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【主权项】:
一种带抗反射膜的玻璃基材,为在表面具备抗反射膜的玻璃基材,其特征在于,玻璃基材含有至少1种选自Na及Ca中的碱金属;抗反射膜含有SiO2且折射率为1.35~1.50;并且在玻璃基材表面与抗反射膜的界面具备扩散抑制膜,所述扩散抑制膜以基于透射电子显微镜附属的能量色散型X‑射线光谱分析装置的定量分析计算,相对于Si、P及O的总计100原子%,含有1~12原子%的P。
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