[发明专利]一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法

摘要

本发明提供了一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法。该方法采用由非磁性材料制成的、具有固定曲率半径的非磁性模具对柔性磁性薄膜产生应变，得到所施加应力与无应力存在时的应力差Δσ，然后利用磁光克尔效应测试系统测量该柔性磁性薄膜样品在无应变与应变条件下各向异性场的变化量ΔHK，通过饱和磁致伸缩系数公式λs=ΔHkMs/(3Δσ)，直接计算得到该柔性磁性薄膜的饱和磁致伸缩系数λs。与现有磁性薄膜的磁致伸缩系数测量方法相比，本发明具有测量精度高、简单易行、成本低的优点，具有良好的应用前景。

主权项

一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法，其特征是：包括如下步骤：步骤1、将无应变的柔性磁性薄膜样品置于磁光克尔效应测试系统中，采用纵向模式测量该柔性磁性薄膜样品的难轴磁化曲线，得出无应变的柔性磁性薄膜样品的各向异性场Hk1；步骤2、使用由非磁性材料制成的、具有固定曲率半径的模具，将柔性磁性薄膜样品置于该模具的曲面上，使模具对柔性磁性薄膜样品施加应变，其应力σ=εE/(1‑v2)，其中应变大小系数ε=t/2ρ，ρ为模具的曲率半径，t为柔性磁性薄膜样品厚度，E为杨氏模量、v为泊松比；步骤3、将模具置于磁光克尔效应测试系统中，采用纵向模式测量置于模具曲面的柔性磁性薄膜样品的难轴磁化曲线，得出在应变状态下的柔性磁性薄膜样品的各向异性场Hk2；步骤4、根据测量得到的参数Hk1、Hk2、σ，得到有应变与无应变条件下柔性磁性薄膜样品所受的应力差Δσ=σ，有应变与无应变条件下柔性磁性薄膜样品的各向异性场变化量ΔHk=Hk2‑Hk1，结合该柔性磁性薄膜的饱和磁化强度Ms，得到该柔性磁性薄膜的饱和磁致伸缩系数λs=ΔHkMs/(3Δσ)；步骤5、改变模具曲率半径ρ，重复步骤2至4数次，得到相对应的λs，取平均值，得到该柔性磁性薄膜样品的饱和磁致伸缩系数平均值。