[发明专利]一种用于FPGA结构设计的系统及其方法有效
申请号: | 201210366291.7 | 申请日: | 2012-09-27 |
公开(公告)号: | CN103699705B | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
发明(设计)人: | 张峰;李艳;陈亮;李明;于芳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于FPGA结构设计的系统及其方法,属于微电子领域中集成电路设计和电子设计技术领域。该系统包括结构参数编辑模块、详细结构生成模块、局部结构调整模块和全自动结构评估模块。本发明能降低FPGA结构设计的复杂度,提高设计的灵活性,全自动的设计流程可帮助结构设计师快速轻松地设计出性能优异的FPGA结构。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 fpga 结构设计 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种用于FPGA结构设计的系统,其特征在于,包括结构参数编辑模块、详细结构生成模块、局部结构调整模块和全自动结构评估模块;其中,所述结构参数编辑模块,用于选定所需编辑的结构项目,然后设定FPGA结构参数,生成结构描述文件;所述详细结构生成模块,根据所述结构项目,读取所述FPGA结构参数,然后建立布线资源图,根据所述布线资源图,产生FPGA详细结构图;所述局部结构调整模块,用于局部调整所述FPGA详细结构图,重新建立新布线资源图,根据所述新布线资源图,重新建立新FPGA详细结构图;所述全自动结构评估模块,用于对所述新FPGA详细结构图进行评估,从而确定性能最优的FPGA结构;所述FPGA结构参数包括通用型结构参数和特有型结构参数;所述全自动结构评估模块包括:选择多个基准电路;对所述基准电路进行逻辑综合和工艺映射,得到包含寄存器和查找表的网表,然后将所述网表打包到逻辑块中;使用布局布线器对所述基准电路进行布局和布线,在布局和布线过程中通过自动遍历所述FPGA结构参数的值来迭代调用所述布局布线器;当所述布局和布线结束后,提取所述基准电路在所述新FPGA详细结构图上使用的面积和关键路径延时,然后根据所述面积和所述关键路径延时,借助数据分析绘图工具得出面积延时积随所述FPGA结构参数的值的改变而变化的趋势图,从所述趋势图中选出面积延时积最小的所述FPGA结构参数;调整所述面积延时积最小的FPGA结构参数,从而对面积延时积最小的所述FPGA结构参数,找到所述面积延时积最小的FPGA结构参数的最佳值,将所述最佳值替换为所述面积延时积最小的FPGA结构参数,建立最优的FPGA详细结构图。
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