[发明专利]磁体电学中心的检测装置及方法有效
| 申请号： | 201210367176.1 | 申请日： | 2012-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN103697801A | 公开（公告）日： | 2014-04-02 |
| 发明（设计）人： | 杨绩文 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/00 | 分类号： | G01B7/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 201815 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种磁体电学中心的检测装置和方法，所述检测装置包括：探头阵列，包括预定数量且呈线性排布的测量探头；测量主轴，所述探头阵列设置于所述测量主轴上，所述测量主轴的一端标有相对于中心参考点位置的测量刻度，所述中心参考点为所述探头阵列所在位置的所述测量主轴上任意一点；射频收发器，用于发射射频脉冲信号和接收模拟电压信号；控制处理器，包括控制单元和数据处理单元。本发明技术方案能够减少测量磁体电学中心的时间，降低由过多人工操作带来的操作复杂性，提高测量结果的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 磁体 电学 中心 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种磁体电学中心的检测装置，其特征在于，包括：探头阵列，包括预定数量且呈线性排布的测量探头，所述测量探头用于反馈模拟电压信号以检测其所处位置的磁场强度；测量主轴，所述探头阵列设置于所述测量主轴上，所述测量主轴的一端标有相对于中心参考点位置的测量刻度，所述中心参考点为所述探头阵列所在位置的所述测量主轴上任意一点；射频收发器，与所述探头阵列连接，用于发射射频脉冲信号和接收所述模拟电压信号；控制处理器，与所述射频收发器连接，包括：控制单元，用于发送测场序列以检测所述测量探头所处位置的磁场强度，所述测场序列用于控制所述射频收发器对所述测量探头发射射频脉冲信号和接收所述测量探头反馈的模拟电压信号；数据处理单元，用于分析所述磁场强度，判断所述中心参考点是否位于磁体电学中心。
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