[发明专利]X射线校准装置无效
| 申请号： | 201210368369.9 | 申请日： | 2012-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN103027700A | 公开（公告）日： | 2013-04-10 |
| 发明（设计）人： | R.K.佩恩;D.L.埃尔冈;W.K.沃克 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 姜甜;朱海煜 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明名称为“X射线校准装置”。一种X射线校准装置(300)包括芯(302)，芯(302)包括具有第一X射线衰减系数的第一材料。芯(302)定义腔体(306)，腔体(306)配置成接纳不同X射线衰减系数的填料以便改变X射线校准装置(300)的X射线衰减系数。X射线校准装置(300)还包括至少部分地围绕芯(302)的外层(304)。外层(304)包括具有第二X射线衰减系数的第二材料，其中第二X射线衰减系数低于第一X射线衰减系数。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 校准 装置 | ||
【主权项】：
一种x射线校准装置(300)，包括：芯(302)，其包含具有第一x射线衰减系数的第一材料，所述芯(302)定义腔体(306)，所述腔体配置成接纳不同x射线衰减系数的填料(350)以便改变所述x射线校准装置(300)的x射线衰减系数；以及外层(304)，其至少部分地围绕所述芯(302)，所述外层(304)包括具有第二x射线衰减系数的第二材料，其中所述第二x射线衰减系数低于所述第一x射线衰减系数。
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