[发明专利]激光光学确定铸坯导辊的高度的探头、系统及应用与方法有效
申请号: | 201210370546.7 | 申请日: | 2012-09-29 |
公开(公告)号: | CN103033136A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | T.菲恩哈默;J.古滕布鲁纳;W.豪斯莱特纳;C.欣特雷特;M.迈尔霍费尔;J.佩恩;P.普兰克;M.施塔雷迈尔 | 申请(专利权)人: | 西门子VAI金属科技有限责任公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 胡莉莉;刘春元 |
地址: | 奥地*** | 国省代码: | 奥地利;AT |
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摘要: | 本发明涉及激光光学确定铸坯导辊的高度的探头、系统及应用与方法。本发明涉及对圆柱形辊的圆周表面进行采样的测量接触探头和借助于测量系统对铸坯导架中的铸坯导辊的实际高度的激光光学确定的方法。本发明的目标是描述可快速地以高精确度和简单装置确定铸坯导辊的实际高度的测量接触探头和方法。该目标通过测量接触探头实现,其具有:接触探头;连接到接触探头的垂直导引成型件;包括探测器试场和距离评估单元的激光接收单元,其中激光接收单元可在导引成型件上沿垂直方向移位,探测器试场被用于探测激光束,并且距离评估单元确定激光束相对于激光接收单元的第一垂直距离;以及移位测量装置,用于确定接触探头与激光接收单元之间的第二垂直距离。 | ||
搜索关键词: | 激光 光学 确定 铸坯导辊 高度 探头 系统 应用 方法 | ||
【主权项】:
一种用于对圆柱形辊(20)的圆周表面(21)进行采样的测量接触探头(1),所述测量接触探头(1)具有:‑ 至少一个接触探头(2),所述至少一个接触探头(2)包括接触表面(3);‑ 刚性地连接到所述接触探头(2)的垂直导引成型件(4);‑ 激光接收单元(5),所述激光接收单元(5)包括探测器试场(6)和距离评估单元(7),其中所述激光接收单元(5)能够在所述导引成型件(4)上沿着垂直方向被移位,所述探测器试场(6)被实现用于探测激光束(8),并且所述距离评估单元(7)能够确定所述激光束(8)相对于所述激光接收单元(5)的第一垂直距离VA1;以及‑ 移位测量装置(9),用于确定在所述接触探头(2)与所述激光接收单元(5)之间的第二垂直距离VA2。
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