[发明专利]相移电控制取样光栅半导体激光器及其设置方法有效
申请号: | 201210370711.9 | 申请日: | 2012-09-29 |
公开(公告)号: | CN102916340A | 公开(公告)日: | 2013-02-06 |
发明(设计)人: | 周亚亭;陈向飞 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | H01S5/12 | 分类号: | H01S5/12 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 徐激波 |
地址: | 210093 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提出了一种基于相移电控制的取样光栅半导体激光器,所述的DFB半导体激光器结构由第一与第二两个取样光栅区和一个相移区组成;两边取样光栅区中的光栅是取样布拉格光栅(SBG),中间为相移区,取样周期从1微米到数十微米量级;两个取样光栅区的电极连接在一起,但与相移区的电极相隔离;取样光栅区和相移区的有效折射率与长度,分别用nSBG和nP、LSBG和LP来表示;只要改变取样周期P的大小,就能实现对激光器激射波长的初步控制;构成相移电控制的取样布拉格光栅分布反馈式(DFB)半导体激光器。 | ||
搜索关键词: | 相移 控制 取样 光栅 半导体激光器 及其 设置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于相移电控制的取样光栅半导体激光器,其特征是所述的DFB半导体激光器结构由第一与第二两个取样光栅区和一个相移区组成;两边取样光栅区中的光栅是取样布拉格光栅(SBG),中间为相移区,取样周期从1微米到数十微米量级;两个取样光栅区的电极连接在一起,但与相移区的电极相隔离;均匀取样光栅中的折射率调制强度,表示为(4)从式(4)知,一个取样光栅等效为许多影子光栅的叠加、一个影子光栅对应一个信道;第m级影子光栅的周期表示为(5)因此在第m级影子光栅中,布拉格波长表示为(6)以第-1级子光栅为例,式(5)和(6)变化为(9)(10)取样光栅区和相移区的有效折射率与长度,分别用和、和来表示;激光器有源层的增益中心被设置在取样光栅的±1级子光栅之一的布拉格波长处(12)在取样光栅区和相移区注入不同电流密度时,由于自由载流子的等离子效应,和将不同,因而在相移区将产生一个相移,大小为(13)由式(10)可知,在影子光栅周期保持不变的情况下,只要改变取样周期P的大小,就能实现对激光器激射波长的初步控制;在取样周期P确定时,在取样光栅区、相移区注入电流、之和,即激光器工作电流(+)保持不变的条件下,由式(13)知改变和的比例就能改变引入相移的大小,在取样光栅±1级子光栅的禁带宽度、通常为2~5nm的范围内任意调节激射波长的数值。
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