[发明专利]薄膜的形成方法和成膜装置有效

专利信息
申请号: 201210371168.4 申请日: 2012-09-28
公开(公告)号: CN103031530A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 柿本明修;远藤笃史;宫原孝广;中岛滋;高木聪;五十岚一将 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: C23C16/24 分类号: C23C16/24;C30B25/02;C30B29/06;H01L21/02;H01L21/67
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供薄膜的形成方法和成膜装置。在能够进行真空排气的处理容器内在被处理体的表面上形成晶种膜和含杂质的硅膜的薄膜的形成方法具有以下步骤:第1步骤,向处理容器内供给由氨基硅烷类气体和高级硅烷之中的至少任一种气体构成的晶种膜用原料气体而形成晶种膜;以及第2步骤,向处理容器内供给硅烷类气体和含杂质气体而形成非晶态的上述含杂质的硅膜。
搜索关键词: 薄膜 形成 方法 装置
【主权项】:
一种薄膜的形成方法,其用于在能够进行真空排气的处理容器内在被处理体的表面上形成晶种膜和含杂质的硅膜,其特征在于,该薄膜的形成方法具有以下步骤:第1步骤,向上述处理容器内供给由氨基硅烷类气体和高级硅烷之中的至少任一种气体构成的晶种膜用原料气体而在上述被处理体的表面上形成上述晶种膜;以及第2步骤,向上述处理容器内供给硅烷类气体和含杂质气体而形成非晶态的上述含杂质的硅膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京毅力科创株式会社,未经东京毅力科创株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210371168.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top