[发明专利]半导体器件系统级封装结构及封装模组有效

专利信息
申请号: 201210371803.9 申请日: 2012-09-29
公开(公告)号: CN102856306A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 王之奇;喻琼;王蔚 申请(专利权)人: 苏州晶方半导体科技股份有限公司
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L23/488;H01L23/31
代理公司: 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 代理人: 杨林洁
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明揭示了一种半导体器件系统级封装结构及模组,其中,所述封装结构包括:第一芯片,所述第一芯片包括设有再分布第一焊垫和控制电路的第一面,和与所述第一面相背的第二面,所述控制电路电性连接所述再分布第一焊垫;第二芯片,所述第二芯片包括设有第二焊垫203和控制电路的第一面,和与所述第一面相背的第二面,所述控制电路电性连接所述第二焊垫203;所述再分布第一焊垫和所述第二焊垫203贴合并电性连接。与现有技术相比,本发明通过芯片间相对的电连接,使得多个芯片的系统级封装尺寸大大缩小、生产效率提高、工艺简单。
搜索关键词: 半导体器件 系统 封装 结构 模组
【主权项】:
一种半导体器件系统级封装结构,包括:第一芯片,所述第一芯片包括设有再分布第一焊垫和控制电路的第一面,和与所述第一面相背的第二面,所述控制电路电性连接所述再分布第一焊垫;第二芯片,所述第二芯片包括设有第二焊垫203和控制电路的第一面,和与所述第一面相背的第二面,所述控制电路电性连接所述第二焊垫203;其特征在于,所述再分布第一焊垫和所述第二焊垫203贴合并电性连接。
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