[发明专利]插座及电子元件测试装置无效
| 申请号： | 201210374423.0 | 申请日： | 2012-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN103036125A | 公开（公告）日： | 2013-04-10 |
| 发明（设计）人： | 中村阳登;藤崎贵志 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | H01R33/74 | 分类号： | H01R33/74;H01R13/193;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 高占元 |
| 地址： | 日本东京都练*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种可抑制接触不良发生的插座，该插座11电连接于具有形成与晶片50的电极触头51相接触的突起324的基膜32、与突起324电连接的外部端子312的测试用载体，包含与外部端子312接触的接触器125和推压基膜32的突起形成部分32a以及突起周围部分32b的弹性部件131；弹性部件131具有第1弹性层132、比第1弹性层132柔软的层叠于第1弹性层132上的与基膜32接触的第2弹性层133。 | ||
| 搜索关键词： | 插座 电子元件 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种插座，电连接于具有形成与电子元件的电极接触的内部端子的膜状第1部件和与所述内部端子电连接的外部端子的测试用载体，其特征在于，所述插座包括与所述外部端子接触的接触子和第1推压构件，所述第1推压构件推压所述第1部件上的形成所述内部端子的部分和所述第1部件上的所述内部端子的周围部分； 所述第1推压构件，具有第1弹性部件和比所述第1弹性部件柔软的层压于所述第1弹性部件的与所述第1部件接触的第2弹性部件。
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