[发明专利]测试机构及其制作方法无效
申请号: | 201210375613.4 | 申请日: | 2012-09-29 |
公开(公告)号: | CN102879618A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 郑礼朋 | 申请(专利权)人: | 郑礼朋 |
主分类号: | G01R3/00 | 分类号: | G01R3/00;G01R31/00 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 薛琦;吕一旻 |
地址: | 130015 吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明公开了一种测试机构及其制作方法,该测试机构的制作方法包括以下步骤:步骤S1、使至少一个连接电路与一测试面板对位连接;步骤S2、使每个连接电路均与一固定装置固定连接;步骤S3、将该测试面板从每个连接电路卸下以形成一包括该固定装置以及被该固定装置固定连接的每个连接电路的机构;步骤S4、在步骤S3所得的该机构中,使每个连接电路的另一端与一测试板相连以形成该测试机构。本发明的测试机构能实现数千条或更多微米级电路线路同时精确对位、连接,具有较高的测试效率。 | ||
搜索关键词: | 测试 机构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种测试机构的制作方法,其特征在于,其包括以下步骤:步骤S1、使至少一个连接电路与一测试面板对位连接,每个连接电路的一端均设有至少一个第一对位标识,该测试面板上设有与每个第一对位标识一一对应的第二对位标识,其中,在对位连接中使该第一对位标识和该第二对位标识的位置相对应,且每个连接电路裸露线路的一面与该测试面板裸露线路的一面相连;步骤S2、使每个连接电路均与一固定装置固定连接;步骤S3、将该测试面板从每个连接电路卸下以形成一包括该固定装置以及被该固定装置固定连接的每个连接电路的机构;步骤S4、在步骤S3所得的该机构中,使每个连接电路的另一端与一测试板相连以形成该测试机构。
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