[发明专利]一种基于相关性模型的机内测试设计方法

摘要

本发明属于测试性技术，涉及一种基于相关性模型的机内测试设计方法。该方法以产品相关性模型为基础，首先对相关性模型进行简化，消除冗余测试并合并模糊组，接着识别每种故障对应的最小测试向量矩阵，然后根据测试的可靠性指标以及测试成本确定最优测试向量，作为故障检测和隔离的判据，并将其转化为嵌入式诊断程序部署在产品的机内测试中。该方法能够实现以最优的测试费用、最少的测试准确找出故障源，从而提高电子产品测试性设计水平。

主权项

1.一种基于相关性模型的机内测试设计方法，其特征是，步骤一：建立相关性模型的数学模型，相关性模型的数学模型的依存矩阵表示：00...0...0d11d12...d1j...d1qd21d22...d2j...d2q..................di1di2...dij...diq..................dp1dp2...dpj...dpq]]>其中故障模式总数为p，测试的个数为q，矩阵的第i行[d_i1  d_i2…d_iq]表示的是产品第i个故障模式和每一个测试上的相关性，矩阵的第j列[d_1j  d_2j…d_pj]^T，表示的是第j个测试和每个故障模式之间的相关性，当d_ij=0时，表示第i个故障模式和第j个测试不相关，当d_ij=1时，表示第i个故障模式和第j个测试相关；步骤二：简化依存矩阵，简化依存矩阵包括消除冗余测试和合并模糊组两部分，消除冗余测试：比较依存矩阵的各列，对存在的完全相同的列，保留其中一列，删除其余列，直到各列均不相同；合并模糊组：比较依存矩阵的各行，对存在的完全相同的行，合并为一行，作为一个故障模式模糊组的测试向量，直到各行均不相同；获得简化后的依存矩阵D₀：其中1≤i≤n≤p，1≤j≤m≤q，F_i表示简化后的第i个故障模式或故障模式模糊组，F₀表示无故障状态，T_j表示简化后的第j个测试；步骤三：以D₀为输入，生成被诊断的故障模式或故障模式模糊组的最小测试向量矩阵，具体过程如下：从D₀矩阵中抽取与F_i所对应的k个列组成向量，其中1≤k≤m，k的初始值为1。对k个列的抽取为排列组合形式，抽取总数为对抽取总数为中的每一种抽取情况进行编码ID₁,…,ID_j,…,得到F_i所对应的测试向量矩阵为DCmk×kFi=Fi,kID1...Fi,kIDj...Fi,kIDCmk,]]>其中j=1,...,为编号为ID_j组合的行向量，同时将D₀矩阵转化为个由D₀矩阵中k个不同列向量组合下的矩阵组Dsub=DID1,...,DIDj,...,DIDCmk,]]>其中为在D₀中去除一行后的n×k矩阵，将每一个行向量与D_sub中相对应矩阵的行向量进行比较，如果在中存在一组行向量l=1,2,...,n，使得成立，则将从中删除，否则保留；如此依次经历到从而实现对的约简，约简后的矩阵表示为如果为非空矩阵，则为F_i的最小测试向量矩阵，进入步骤四，否则将k加1，重复此过程，直到k=m；步骤四：确定中最优测试向量，按照下式计算每一行测试向量所对应的测试权重测试权重最小的测试向量为最优测试向量，wFi=∑j=1kTj∑T+∑j=1kMj∑M]]>其中：T_j为测试向量元素对应的测试的平均故障间隔时间（h），M_j为测试向量元素对应的测试成本，∑T为所有测试的平均故障间隔时间（h）的总和，∑M为所有测试的测试成本的总和；步骤五：将步骤四中确定的最优测试向量作为故障判据部署至机内测试系统中。