[发明专利]缺损分类有效
| 申请号： | 201210389154.5 | 申请日： | 2012-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN103377509A | 公开（公告）日： | 2013-10-30 |
| 发明（设计）人： | 陈萍;何超;佳里·罗斯 | 申请（专利权）人： | NCR公司 |
| 主分类号： | G07D7/20 | 分类号： | G07D7/20 |
| 代理公司： | 上海脱颖律师事务所 31259 | 代理人： | 脱颖 |
| 地址： | 美国佐*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种对介质项目中的缺损进行分类的方法。所述方法包括步骤：接收所述介质项目的二进制图像，其中所述二进制图像包括多个像素，每一个像素都具有潜在的缺损亮度或非缺损亮度；并且识别一个或多个包括连续像素的斑点，其中每一个连续像素都具有潜在的缺损亮度。对于每一个识别出的斑点，所述方法包括将所述斑点的尺寸与损坏阈值进行比较；如果所述斑点尺寸小于所述损坏阈值则忽略所述斑点；并且对每一个具有的尺寸超过或等于所述损坏阈值的识别出的斑点，分类识别出的斑点。 | ||
| 搜索关键词： | 缺损 分类 | ||
【主权项】：
一种对介质项目中的缺损进行分类的方法，所述方法包括以下步骤：接收所述介质项目的二进制图像，其中所述二进制图像包括多个像素，每一个像素都具有潜在缺损亮度或非缺损亮度；识别包括连续像素的一个或多个斑点，每一个连续像素都具有潜在缺损亮度；对于每一个识别出的斑点，将所述斑点的尺寸与损坏阈值进行比较；如果所述斑点尺寸小于所述损坏阈值则忽略所述斑点；以及对于每一个具有的尺寸大于或等于损坏阈值的识别出的斑点，分类所述识别出的斑点。
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