[发明专利]触碰点侦测方法有效
| 申请号： | 201210392707.2 | 申请日： | 2012-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN103164092A | 公开（公告）日： | 2013-06-19 |
| 发明（设计）人： | 林家玮;林义哲;董睿昕 | 申请（专利权）人： | 达鸿先进科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 中国台湾新竹县*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种触碰点侦测方法，适用于投射电容式触控板，本方法包含：扫描触碰范围的电容值分布，触碰范围包含边缘区域与中央区域；计算电容值分布在x轴或y轴方向上的一阶导数；取得边缘区域中，一阶导数的最大值M1与最小值M2，M1与M2分别取绝对值后的最大值为Mmax，最小值为Mmin；取得中央区域中，一阶导数的最大值P1与最小值P2；计算（P1-P2）与Mmax的比值的绝对值n；当n介于0.1至0.67的范围中时，判断为多点触碰，而以触碰范围的坐标点计算出多点触碰时的多个触碰点的坐标；当n小于0.1或大于0.67时，判断为大面积触碰，而以一阶导数的最小值所对应的坐标作为大面积触碰时的触碰点的坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 触碰点 侦测 方法 | ||
【主权项】：
一种触碰点侦测方法，其特征在于，适用于一投射电容式触控板，该投射电容式触控板借由碰触时所造成的局部电容值的改变来侦测触碰点的位置，该触碰点侦测方法包含：扫描一触碰范围的一电容值分布，该触碰范围包含一边缘区域与一中央区域，该触碰范围的宽度大于3厘米；计算该电容值分布在x轴方向或y轴方向上每一坐标点的一阶导数；对该边缘区域中每一坐标点的一阶导数取绝对值，其中最大值为Mmax，最小值为Mmin；取得位于该中央区域的一阶导数的最大值P1以及最小值P2；计算（P1‑P2）与Mmax的比值的绝对值n；及当n小于0.1或大于0.67时，以Mmin所对应的坐标作为触碰点的坐标。
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