[发明专利]用以控制等离子电位的设备及方法有效

专利信息
申请号: 201210393182.4 申请日: 2007-07-06
公开(公告)号: CN102912313A 公开(公告)日: 2013-02-06
发明(设计)人: 道格拉斯·凯尔;李路明;列扎·萨亚迪;埃里克·赫德森;埃里克·伦茨;拉金德尔·德辛德萨 申请(专利权)人: 朗姆研究公司
主分类号: C23C16/00 分类号: C23C16/00
代理公司: 上海胜康律师事务所 31263 代理人: 李献忠
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用于半导体晶圆等离子处理的设备。该设备包含室,其中设有下电极和上电极。该下电极用于传送射频电流通过该室,以在该室内产生等离子。该上电极形成于下电极上方且与该室电隔离。将电压源连接到上电极。该电压源用以控制上电极相对于该室的电压。受到该电压源控制的上电极的电位能够影响将产生于上下电极之间的等离子的电位。
搜索关键词: 用以 控制 等离子 电位 设备 方法
【主权项】:
一种用于半导体晶圆等离子处理的设备,其包括:室;下电极,其设置于该室内并用于传送射频电流通过该室,该下电极用于支持暴露于等离子的半导体晶圆,该等离子通过该射频电流而产生于该室内;以及上电极,其设置于该下电极上方,且与该下电极具有分隔关系,其中该上电极由掺杂半导体材料加以定义,其中该上电极内的掺杂浓度由该上电极的中心至周围呈放射状变化。
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