[发明专利]分离检测食品中纳米二氧化硅的方法无效
| 申请号： | 201210395577.8 | 申请日： | 2012-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN102914535A | 公开（公告）日： | 2013-02-06 |
| 发明（设计）人： | 王海芳;成斌;陈欣欣;杨怡新;马辛;陈胜;曹傲能 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73;G01N15/02;G01N1/28 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人： | 陆聪明 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种分离检测食品中纳米二氧化硅的方法，针对含有二氧化硅添加剂的典型食品样品，采用不同的前处理过程将二氧化硅溶出，利用离心使二氧化硅富集，使用有机溶剂清洗分离出的二氧化硅，然后通过透射电子显微镜观察和确定纳米二氧化硅的存在。同时对分离得到的纳米二氧化硅进行全面表征，利用扫描电子显微镜、X射线能谱图等全面表征纳米颗粒的基本信息，利用电感耦合等离子体发射光谱仪测定二氧化硅的总含量。本发明分离操作简单，能高效地分离出食品中的纳米二氧化硅颗粒并适用于多种食品中纳米二氧化硅的检测，为纳米产品的标示和安全性评价提供基本数据。 | ||
| 搜索关键词： | 分离 检测 食品 纳米 二氧化硅 方法 | ||
【主权项】：
一种分离检测食品中纳米二氧化硅的方法，其特征在于，包括如下步骤：1）从食品样品中分离出纳米二氧化硅颗粒；2）对步骤1）分离出的纳米二氧化硅颗粒进行消解，定容，利用电感耦合离子体发射光谱仪测定硅元素含量，并换算出二氧化硅总量，3）将步骤1）分离出的纳米二氧化硅颗粒利用透射电子显微镜观察颗粒形貌及粒径；4）与步骤3）同时，对从步骤1）中获得的纳米二氧化硅进行定性和定量的全面表征，即为：ⅰ）将步骤1）分离出的纳米二氧化硅颗粒利用扫描电子显微镜对其形貌、尺寸及表面进行表征；ⅱ）利用高分辨率透射电子电镜确认步骤1）分离出的纳米二氧化硅的元素组成。
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