[发明专利]阻变存储器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201210397268.4 申请日: 2012-10-18
公开(公告)号: CN103296203B 公开(公告)日: 2018-01-05
发明(设计)人: 李民镛;李泳昊;白承范;李锺哲 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;H01L27/24
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363 代理人: 石卓琼,俞波
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种可变存储器件及其制造方法。所述可变存储器件包括可变电阻层,所述可变电阻层形成在形成有下结构的半导体衬底上;下电极,所述下电极形成在可变电阻层上;开关单元,所述开关单元形成在下电极上;以及上电极,所述上电极形成在开关单元上。
搜索关键词: 存储 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种阻 变存储器件,包括:第一互连线;第一阻变存储器单元,所述第一阻变存储器单元形成在所述第一互连线上,并包括顺序层叠的第一开关单元、第一加热器以及可变电阻层;第二阻变存储器单元,所述第二阻变存储器单元形成在所述第一阻变存储器单元上,并包括顺序层叠的所述可变电阻层、第二加热器以及第二开关单元;以及第二互连线,所述第二互连线形成在所述第二阻变存储器单元上,其中,第一阻变存储器单元和第二阻变存储器单元共享所述可变电阻层。
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