[发明专利]一种位相物体位相分布的定量测量方法和装置及其应用

摘要

本发明公开一种位相物体位相分布的定量测量方法和装置及其应用。该方法为将平行光投射到位相物体上，经过成像透镜，得到位相物体的明场像；沿着光束方向，在成像透镜后的频谱面上放置滤波器吸收物体的零级频谱，得到位相物体的暗场像；根据两幅图像所携带的信息及像光强的理论表达式，利用图像处理技术分析明场像和暗场像，得到位相物体的每一点位相值，重构位相物体的位相分布或图像。实现该方法的装置为沿着光束前进方向，光源、扩束透镜、针孔滤波器、准直透镜、用于放置位相物体的装置、成像透镜、用于吸收位相物体零级频谱的滤波器和面阵光电探测器依次排列。本发明实现了位相物体的定量测量，测量位相范围0～π，装置简单，成本低。

主权项

一种位相物体位相分布的定量测量方法，其特征在于包括以下步骤：（1）由光源发射一束单色光，经光束处理机构处理，得到一束平行光；（2）步骤（1）得到的平行光投射到位相物体上，经过成像透镜，利用面阵光电探测器接收并拍摄位相物体，得到位相物体的明场像；沿着光束方向，在成像透镜后的频谱面上放置滤波器吸收物体的零级频谱，利用面阵光电探测器接收并拍摄位相物体，得到位相物体的暗场像；根据两幅图像所携带的信息及像光强的理论表达式，利用图像处理技术分析明场像和暗场像，得到位相物体的每一点位相值，重构位相物体的位相分布或图像。