[发明专利]基于电控双折射效应的红外图像微扫描系统

摘要

一种基于电控双折射效应的红外图像微扫描系统。主要由光学介质、滤光部分、供电部分及信号控制部分组成。该系统是利用一些具有电光效应的光学介质，在对该介质施加一个适当的外电场，使介质的光学性质发生改变，产生电致感应双折射效应，使红外图像的光束经过该光学介质后产生微小偏折，然后用滤光片将未发生偏折的光线滤掉。通过控制外电场的大小、变化周期以及光学介质的厚度，使红外图像在红外探测器阵列上产生2×2周期性的微位移，采集4幅欠采样低分辨力图像，实现对红外图像的微扫描。可避免传统机械式微扫描装置精加工的困难，促进红外微成像技术的发展。

主权项

一种基于电控双折射效应的红外图像微扫描系统，其特征在于该系统包括光学介质部分、滤光部分、电极、供电部分、信号控制部分以及红外探测器阵列；所述的电极包括安装在光学介质部分上下两端的竖直电极和安装在光学介质部分左右两端的水平电极；供电部分对光学介质部分四周的竖直电极和水平电极施加一个4kv‑5kv的外电场，使光学介质部分产生电致感应双折射效应，使红外成像的光束经过该光学介质部分后产生偏折距离为微米数量级的偏折，然后用滤光部分将未发生偏折的光线滤掉；信号控制部分与供电部分连接，通过控制外电场的大小以及变化周期，使红外图像在红外探测器阵列上产生2×2周期性的微位移，采集4幅欠采样低分辨率图像，实现对红外图像的微扫描。