[发明专利]一种并行结构数字存储示波器捕获率的测试方法

摘要

本发明一种并行结构数字存储示波器捕获率的测试方法，在双脉冲测试方法的基础上，考虑到并行结构数字存储示波器采集过程中采集的不均匀性和会出现的刷屏时间，提出步进幅频组合脉冲测试法，找到波形采集和映射时间Tmap、刷屏前能够捕获到的波形幅数Wacq以及刷屏所致死区时间，计算出被测数字存储示波器的实测波形捕获率，从而满足并行结构数字存储示波器波形捕获率测定的需要。

主权项

一种并行结构数字存储示波器捕获率的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）、将数字存储示波器设置在厂家给出的最大捕获率状态下的时基档位，通过双脉冲测试方法，确认并行结构数字存储示波器的最短捕获时间Tdp，则其最大捕获率为1/Tdp；（2）、利用步进幅频组合脉冲，定位刷屏所致死区时间位置及刷屏前的捕获波形数；2.1）、步进幅频组合脉冲的构建步进幅频组合脉冲的各个脉冲间隔时间，即相邻脉冲上升沿之间的间隔时间相等，取双脉冲测试法得到的最短捕获时间Tdp；步进幅频组合脉冲分为X组，每组Y个脉冲，一组脉冲中各脉冲的幅度依次增加，且各组脉冲对应顺序上的脉冲幅度相同；一组脉冲中各脉冲的宽度相同，且各组脉冲的宽度依次增加；一组脉冲的幅度以及增加幅度、脉冲宽度以及各组脉冲的宽度增加量以能够方便测试人员在屏幕上观测为准；2.2）、将数字存储示波器置于厂家给出的最大捕获率状态下的时基档位，幅度设置在步进幅频组合脉冲最大幅度能够显示为准；利用可编程任意波形发生器，产生一段步进幅频组合脉冲，输入到数字存储示波器中进行测试；如果全部显示，则产生第2段步进幅频组合脉冲，输入到数字存储示波器中进行测试，第2段步进幅频组合脉冲由一个起始脉冲，然后间隔Tseg=Tdp×X×Y，再为步进幅频组合脉冲的脉冲构成；如果第2段步进幅频组合脉冲全部显示，则产生第3段步进幅频组合脉冲，输入到数字存储示波器中进行测试，第3段步进幅频组合脉冲由一个起始脉冲，然后间隔Tseg=2×Tdp×X×Y，再为步进幅频组合脉冲的脉冲构成；依此类推，直到得到没有全部显示的第P段步进幅频组合脉冲，这样可以得到刷屏所致死区时间出现的位置之前的时间，即波形映射和采集的时间：Tmap=(P‑1)·Tseg+Tseg_P                       （2）其中，Tseg_P为第P段步进幅频组合脉冲在数字存储示波器上显示出来的脉冲所对应的时间，从而定位刷屏所致死区时间位置；分段测试过程中，可以通过观察数字存储示波器屏幕，得到第k段步进幅频组合脉冲捕获的脉冲个数Wseg_k，则在刷屏所致死区时间到来前，即刷屏前的数字存储示波器能够捕获到的波形幅数为： W acq = Σ k = 1 P W seg _ k - - - ( 3 ) （3）、测量刷屏所致死区时间，并计算得到数字存储示波器的实测波形捕获率按照步骤2.1方法构建测量刷屏所致死区时间的步进幅频组合脉冲，除脉冲间隔时间外，其余与步骤2.1步进幅频组合脉冲相同；利用可编程任意波形发生器，产生一段测量刷屏所致死区时间的步进幅频组合脉冲步，输入到数字存储示波器中进行测试；产生的测量刷屏所致死区时间的步进幅频组合脉冲步其脉冲间隔时间Tl在Tmap/(X×Y)的基础上逐步增加，直到显示出来的脉冲逐渐减少后，重新增加为止；通过观察数字存储示波器屏幕，得到刷屏所致死区时间，即大死区时间所占的脉冲个数WDL，计算得到大死区时间：TDDT=WDL×Tl                        （4）最后可根据已经得到的测量数据，算出被测数字存储示波器的实测波形捕获率 WCR ave = 1 ( s ) T DDT + T map × W acq - - - ( 5 ) .