[发明专利]一种中子辐照 6Li产氚量的等效测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 201210406496.3 申请日: 2012-10-23
公开(公告)号: CN103018315A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 李雪松;欧阳晓平;韦冠一;解峰;张忠兵;陈亮;姜文刚;余功硕;梁建峰;张小林;何小兵 申请(专利权)人: 西北核技术研究所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N30/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 710024 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种中子辐照6Li产氚量的等效测量方法,通过测量中子辐照条件下6Li(n,α)T反应中4He含量间接得到氚的量;由于4He为惰性气体,不易与金属结合,容易释放,因此避免了现有产氚量测量方法中多次提取、处理和测量的繁琐环节,同时解决了微量产氚量的测量难题;本发明中子辐照6Li产氚量的等效测量装置包括密封容器、氧化柱、冷凝器和质谱仪,对氢同位素的氧化后低温去除,减小了其对4He含量测量的影响,提高了测量不确定度。
搜索关键词: 一种 中子 辐照 sup li 产氚量 等效 测量方法 装置
【主权项】:
一种中子辐照6Li产氚量的等效测量方法,其特征在于:包括以下步骤:1】制备6Li密封靶;2】中子源辐照6Li密封靶;3】6Li密封靶样品预处理;4】测量6Li密封靶中4He的含量;5】根据中子辐照6Li(n,α)T反应在产生一个氚原子的同时产生一个4He原子的等效关系,计算得到氚原子的含量。
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