[发明专利]冲击电流测试方法有效
| 申请号： | 201210410307.X | 申请日： | 2012-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN102890182A | 公开（公告）日： | 2013-01-23 |
| 发明（设计）人： | 李天星;戴颖;董荷玉 | 申请（专利权）人： | 北京元六鸿远电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/17 | 分类号： | G01R19/17;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人： | 王秀丽 |
| 地址： | 100070 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种冲击电流测试方法，涉及电子信息材料与元器件技术领域，具体包括：设定次数和时间间隔；同时对多个元器件进行冲击电流测试。本发明所要解决的技术问题是提供一种冲击电流测试方法，有效实现了同时对多个元器件进行冲击电流测量和耐冲击电流能力测试。 | ||
| 搜索关键词： | 冲击 电流 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种冲击电流测试方法，其特征在于，包括：设定次数和时间间隔；同时对多个元器件进行冲击电流测试。
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