[发明专利]地气杂散光对低轨空间相机的杂散光照度分析方法无效

专利信息
申请号: 201210411298.6 申请日: 2012-10-25
公开(公告)号: CN102928075A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 杜玉军;辛维娟;贺应红;陈海滨;吕宏;高明;王青松;李建超 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 黄秦芳
地址: 710032*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及基于点目标的地气杂散光引起的低轨空间相机光学遥感器像面的杂散光照度的计算方法,具体涉及一种地气杂散光对低轨空间相机的杂散光照度分析方法。本发明的目的是提供一种地气杂散光对低轨空间相机的杂散光照度分析方法。以克服现有方法存在的计算误差大、甚至无法检测的缺点。为克服现有技术存在的问题,本发明提供的技术方案是:本发明不再把地球看成一个点杂源,而是将其作为一个扩展面杂光源来进行检测分析。本发明考虑因素全面、精度高,简化了计算的复杂性。
搜索关键词: 地气 散光 空间 相机 照度 分析 方法
【主权项】:
一种地气杂散光对低轨空间相机的杂散光照度分析方法,依次包括下述步骤:将地球球面分为若干单位面元以作为点杂源,面元的边长远小于卫星轨道高度;根据立体角投影定理将地球球面简化为平面模型,用于简化面积分计算的复杂度;确定平面M内的有效杂光区域,用于确定对空间相机光学遥感器像面的杂散光有效区域;计算有效杂光区域内各面元在空间相机入口垂直于入射方向的照度ΔEs;计算空间相机在不同方位角和离轴角下对应的点光源透过率系数PST(ω,α)值;计算平面M内有效杂光区域的地气光在像面的杂光照度E杂=∑ΔEs PST(ω,α)。
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