[发明专利]一种数控机床借助测量分中棒实现对工件基准点的确定方法无效
申请号: | 201210412389.1 | 申请日: | 2012-10-25 |
公开(公告)号: | CN102941503A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 孟宪章 | 申请(专利权)人: | 深圳市壹兴佰测量设备有限公司 |
主分类号: | B23Q15/22 | 分类号: | B23Q15/22;B23Q17/00 |
代理公司: | 深圳市智科友专利商标事务所 44241 | 代理人: | 曲家彬 |
地址: | 518115 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种数控机床借助测量分中棒实现对工件基准点的确定方法,解决数控机床借助测量分中棒对工件基准点的确定采用计算机控制系统技术复杂,系统成本高和采用手动移动测量分中棒的测量触头与工件基准点之间的距离,误差大,操作时间长的技术不足,采用的方法是根据不同进给档位的数控机床,按最长进给距离的进给档位到最短进给距离顺序,手动控制机床进给,逐步将被测基准点确定在不同进给距离的范围内,最终可获得控制数控机床X或Y方向进给最小单元的进给误差与测量分中棒接触测量误差值之和误差值的工件基准点坐标值。有益效果是,测量方法简单,速度快,使测量分中棒成为简单的手动测量工具,该方法对于数控机床对工件的加工或测量带来极大的方便,提高效率10倍以上。 | ||
搜索关键词: | 一种 数控机床 借助 测量 分中棒 实现 工件 基准点 确定 方法 | ||
【主权项】:
一种数控机床借助测量分中棒实现对工件基准点的确定方法,该方法是将测量分中棒安装在数控机床的加工主轴上,通过手动控制数控机床按不同的进给量,分别实现测量分中棒与工件基准点的接触实现的,其特征在于:该方法是采用以下步骤实现的:⑴、将测量分中棒安装在数控机床的加工主轴上,并保证测量分中棒测量触头能与被测基准点接触,同时测量分中棒的测量精度值小于数控机床最小进给单元的进给量:⑵、将数控机床的控制系统装换为手动控制模式,将数控机床进给距离调整为0.1MM档位,手动控制数控机床X或Y方向进给,使测量分中棒测量触头与被测基准点接近,当控制数控机床X或Y方向进给一个0.1MM最小进给单元时,测量分中棒测量触头与被测基准点接触,测量分中棒接触指示灯发光,当控制数控机床X或Y方向反向退出0.1MM最小进给单元时,测量分中棒测量触头与被测基准点分离,测量分中棒接触指示灯熄灭,确定该最小进给单元的X或Y方向的坐标位置,即为工件基准点的初步确定的坐标位置区间为(X1—X1、)或(Y1—Y1、);⑶、在步骤⑵的手动控制模式中,将数控机床进给距离调整为0.01MM档位,在步骤⑵工件基准点的初步确定的坐标位置区间(X1—X1、)或(Y1—Y1、)内,当控制数控机床X或Y方向进给0.01MM最小进给单元时,测量分中棒测量触头与被测基准点接触,测量分中棒接触指示灯发光,控制数控机床X或Y方向反向按0.01MM单元逐步退出,当控制数控机床X或Y方向反向退出0.01MM单元,测量分中棒测量触头与被测基准点分离,测量分中棒接触指示灯熄灭时,确定该0.01MM最小进给单元的X或Y方向的坐标位置即为工件基准点的第二次确定的坐标位置区间为(X2—X2、)或(Y2—Y2、);⑷、步骤⑵的手动控制模式中,将数控机床进给距离调整为0.001MM档位,在步骤⑶工件基准点的第二次确定的坐标位置区间(X2—X2、)或(Y2—Y2、)内,当控制数控机床X或Y方向进给0.001MM最小进给单元时,测量分中棒测量触头与被测基准点接触,测量分中棒接触指示灯发光,控制数控机床X或Y方向反向按0.001MM单元逐步退出,当控制数控机床X或Y方向反向退出0.001MM单元和控制数控机床反向进给误差补偿值时,测量分中棒测量触头与被测基准点分离,测量分中棒接触指示灯熄灭时,该测量分中棒接触指示灯发光点在数控机床数显中心显示的坐标值即为确定的工件基准点坐标,该确定的工件基准点与工件基准点实际位置误差值小于:控制数控机床X或Y方向进给0.001MM单元时的进给误差与测量分中棒接触测量误差值之和。
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