[发明专利]一种背照式CMOS图像传感器的制造方法有效
申请号: | 201210413778.6 | 申请日: | 2012-10-25 |
公开(公告)号: | CN102891158B | 公开(公告)日: | 2017-09-22 |
发明(设计)人: | 李琛;康晓旭;顾学强 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31275 | 代理人: | 吴世华,林彦之 |
地址: | 201210 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种背照式CMOS图像传感器的制造方法,包括在衬底中依次形成感光二极管区及至少一层金属互连层;在衬底下表面形成并刻蚀介质层,以使介质层间形成开口区域,金属互连层的金属互连线通过开口区域引出;在开口区域形成多孔硅结构,多孔硅结构的深度为衬底下表面至所述金属互连线的深度;去除介质层;以及在多孔硅结构中填充导电材料。本发明工艺简便,成本低廉,且所制造的图像传感器中的多孔硅结构与衬底应力非常小,可实现零失配。 | ||
搜索关键词: | 一种 背照式 cmos 图像传感器 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种背照式CMOS图像传感器制造方法,其特征在于,包括以下步骤:在衬底中依次形成感光二极管区及至少一层金属互连层;在所述衬底下表面形成并刻蚀介质层,以使所述介质层之间形成开口区域,所述金属互连层的金属互连线通过所述开口区域引出;在所述衬底下表面的所述开口区域通过电化学腐蚀工艺形成多孔硅结构,所述多孔硅结构的深度为所述衬底下表面至所述金属互连线的深度;去除所述介质层;在所述多孔硅结构中填充导电材料;以及在所述多孔硅结构下方形成MOS晶体管区域。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的