[发明专利]一种阻止Ag在TiAlN涂层中高温晶界扩散的方法有效
申请号: | 201210413826.1 | 申请日: | 2012-10-26 |
公开(公告)号: | CN103774103A | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
发明(设计)人: | 冯长杰;李明升;江鸢飞;胡弦;周雅;杜楠 | 申请(专利权)人: | 南昌航空大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/06 |
代理公司: | 南昌洪达专利事务所 36111 | 代理人: | 刘凌峰 |
地址: | 330000 江西省*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 一种阻止Ag在TiAlN涂层中高温晶界扩散的方法,所述方法为在磁控溅射沉积TiAlN-Ag复合涂层时,采用单独的Si靶和磁控溅射技术,向TiAlN-Ag涂层中添加Si3N4组元,使其存在于TiAlN的晶界上,构成TiAlN-Ag/Si3N4涂层;TiAlN-Ag/Si3N4涂层中Ag含量在1-10at%,Si含量在8-10at%;本发明可使Ag在200-800oC的高温扩散被明显的抑制,可明显阻止Ag通过TiAlN的晶界向涂层表面扩散,在200-800oC高温磨损试验中,可使TiAlN-Ag涂层的磨损时间提高3倍以上,另外,该方法改善的TiAlN-Ag耐磨减磨涂层制备方法简单,可广泛应用。 | ||
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【主权项】:
一种阻止Ag在TiAlN涂层中高温晶界扩散的方法,其特征在于所述方法为在磁控溅射沉积TiAlN‑Ag复合涂层时,采用单独的Si靶和磁控溅射技术,向TiAlN‑Ag涂层中添加Si3N4组元,使其存在于 TiAlN的晶界上,构成TiAlN‑Ag/Si3N4涂层。
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