[发明专利]分析尺寸链的处理方法及其系统有效
| 申请号： | 201210415170.7 | 申请日： | 2012-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN103778269B | 公开（公告）日： | 2017-09-22 |
| 发明（设计）人： | 陈学良;林俊鸿;曾协淳;黄东豪;黄舒慧 | 申请（专利权）人： | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京先进知识产权代理有限公司11648 | 代理人： | 赵志显,邵劲草 |
| 地址： | 201114 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种分析尺寸链的处理方法及其系统，应用在设计模具时对外观部件的调整是否可以符合所要求的公差，并在不符合时播放相应的提示。处理方法包括以下步骤选择待测样本，待测样本具有多个外观部件与相应的外观尺寸信息；载入调整参数；将调整参数套用于待测样本，计算待测样本的输出良率；判断输出良率是否符合期望值；若输出良率符合期望值，则将调整参数记录至汇出报告；若输出良率不符合期望值，调整外观尺寸信息的范围并重新计算新的输出良率。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 尺寸 处理 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种分析尺寸链的处理方法，其特征在于，包括：选择一待测样本，该待测样本具有多个外观部件与相应的一外观尺寸信息；载入一调整参数，该调整参数包括一第一参数、一第二参数与一第三参数；将该调整参数套用于该待测样本，计算该待测样本的一输出良率；判断该输出良率是否符合一期望值；若该输出良率符合该期望值，则将该调整参数记录至一汇出报告；以及若该输出良率不符合该期望值，调整该外观尺寸信息的范围并重新计算新的该输出良率，其中，在调整该外观尺寸信息的步骤中包括：选择该第三参数；取得该调整参数的一上限边界与一下限边界，并根据该上限边界与该下限边界得到一中间值；判断该第三参数与该中间值的大小；若该第三参数大于该中间值，则调低该第三参数并重新计算新的该输出良率；以及若该第三参数小于该中间值，则调高该第三参数并重新计算新的该输出良率。
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