[发明专利]一种检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬态温度的方法有效

专利信息
申请号: 201210420395.1 申请日: 2012-10-29
公开(公告)号: CN103033282A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 信裕;海然;哈桑;丁洪斌 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G01K11/00 分类号: G01K11/00
代理公司: 大连星海专利事务所 21208 代理人: 徐淑东
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明涉及核聚变与光学诊断领域,公开了一种检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬态温度的方法,技术方案为:在磁约束聚变装置正常工作时,从窗口外向石墨瓦垂直射入太赫兹波,探头测量并记录工作温度下由石墨瓦反射回的太赫兹时域波谱;分析处理时域谱,将其在有效频域内做傅里叶变换得到工作温度下频域谱;此时,数据自动选取特征谱线,读取数据库中标定温度下该特征谱线位置,两者相比较得出频移量,与数据库的频移量-温度的函数关系相对照,从而计算出瞬时温度,输出并导入至计算机系统保存。本发明采用反射太赫兹时域谱技术,能够在线、同步并且无接触无损伤地检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦的热冲击瞬时温度。
搜索关键词: 一种 检测 约束 聚变 装置 滤器 石墨 瞬态 温度 方法
【主权项】:
1.一种检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦瞬态温度的方法,具体包括以下步骤:步骤100:在磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦正常工作时,将太赫兹波垂直入射到石墨瓦上,探头测量并记录工作温度下由石墨瓦反射回的太赫兹时域波谱;步骤200:分析处理太赫兹时域波谱;将太赫兹时域波谱在有效频域内做傅里叶变换得到工作温度下反射的频域谱;步骤300:计算机理论模拟不同温度和标定温度下石墨瓦的太赫兹时域谱,条件与偏滤器工作环境相同,对上述两种太赫兹时域谱在有效频域内分别做傅里叶变换,得到标定温度下的太赫兹频域谱和不同温度下的太赫兹频域谱;步骤400:选取特征谱线,记录不同温度下特征谱线峰值与标定温度下该特征谱线峰值的频移量,得到频移量-温度关系曲线,拟合出频移量与温度的函数关系T=f(Δν),作为测温函数关系,集成为计算机数据库;步骤500:记录石墨瓦工作温度下特征谱线峰值与计算机数据库标定温度下该特征谱线峰值的频移量,将此时的频移量Δν带入到频移量-温度函数关系式,得到石墨瓦此时的工作温度T;步骤600:将每个时刻石墨瓦工作温度记录保存于计算机系统,达到同步、快速检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦热冲击瞬时温度。
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