[发明专利]一种基于全局对比度的矢量化显著检测方法有效
| 申请号： | 201210424716.5 | 申请日： | 2012-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN102930542A | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 李宏亮;许林峰 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 李明光 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明一种基于全局对比度的矢量化显著检测方法，包括步骤：1）提取图像中每个像素点的特征矢量，将图像中所有像素的特征矢量构成特征矩阵；2）对特征矩阵沿行方向求均值，得到图像的均值矢量；3）将特征矩阵的转置中每个元素取平方后沿行方向求和，将求和结果与特征矩阵的转置和均值矢量乘积的2倍相减得到图像的显著度矢量；4）将图像的显著度矢量形成该图像的显著谱。本发明相比现有的基于全局对比度的显著检测方法，更高效、计算复杂度低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 全局 对比度 矢量 显著 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于全局对比度的矢量化显著检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1）提取图像中每个像素点的特征矢量，将图像中所有像素的特征矢量构成特征矩阵，特征矩阵的每一列为对应的一个像素点的特征矢量，特征矩阵的列数与图像中像素点个数相等；2）对特征矩阵沿行方向求均值，得到图像的均值矢量；3）将特征矩阵的转置中每个元素取平方后沿行方向求和，将求和结果与特征矩阵的转置和均值矢量乘积的2倍相减得到图像的显著度矢量；4）将图像的显著度矢量归一化至[0,255]区间，按照矢量中各元素对应的像素在图像中的位置排列成矩阵，形成该图像的显著谱，显著谱中亮度越高的像素点其显著度越高。
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