[发明专利]光子计数检测器以及光子计数和检测方法有效
| 申请号： | 201210427967.9 | 申请日： | 2012-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN103083029B | 公开（公告）日： | 2016-11-02 |
| 发明（设计）人： | 韩相旭;姜东求;成映勋 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 王兆赓 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供一种光子计数检测器以及光子计数和检测方法。所述光子计数检测器包括：读出电路，被构造为对入射到传感器的多能辐射中的光子计数，其中，针对多能辐射的多个能带中的每个能带对光子计数，读出电路分别与多能辐射照射到的区域的像素对应，每个读出电路被构造为对多能辐射的多个能带中的一个预定能带中的光子计数，一部分读出电路被构造为对多能辐射的除了多个能带中的一个预定能带以外的至少一个能带中的光子计数。 | ||
| 搜索关键词： | 光子 计数 检测器 以及 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种光子计数检测器，包括：多个读出电路，被构造为对入射到传感器的多能辐射中的光子计数，其中，针对多能辐射的多个能带中的每个能带对光子计数，所述多个读出电路分别与多能辐射照射到的区域的多个像素对应，所述多个读出电路中的每个读出电路被构造为对多能辐射的多个能带中的一个预定能带中的光子计数，所述多个读出电路中的至少一个读出电路被构造为基于从所述多个读出电路接收的比较结果对多能辐射的除了多个能带中的一个预定能带以外的至少一个能带中的光子计数。
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