[发明专利]用于晶圆级感测元件的自我测试系统及其方法有效
申请号: | 201210428131.0 | 申请日: | 2012-10-31 |
公开(公告)号: | CN103792504B | 公开(公告)日: | 2017-11-10 |
发明(设计)人: | 邱东梁;叶人荣 | 申请(专利权)人: | 京元电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;G01R31/26 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司11019 | 代理人: | 寿宁 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种用于晶圆级感测元件的自我测试系统及其方法。自我测试系统包含晶圆级感测元件及测试模块。晶圆级感测元件包含固定单元及可动单元,其中固定单元与可动单元之间形成感应电容。测试模块用以电性连接晶圆级感测元件,且测试模块包含测试电路,用以量测感应电容。其中,晶圆级感测元件用以接收输入信号,使感应电容产生电容值变化量,而测试电路则根据电容值变化量,输出测试信号。 | ||
搜索关键词: | 用于 元件 自我 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种用于晶圆级感测元件的自我测试系统,其特征在于其包含:晶圆级感测元件,包含固定单元及可动单元,其中该固定单元与该可动单元之间形成感应电容,并且该固定单元包含两个固定臂,而该可动单元包含质量块及移动臂,其中该移动臂设于该质量块上,且该移动臂位于该两个固定臂之间;及测试模块,用以电性连接该晶圆级感测元件,其中该测试模块包含测试电路,用以量测该感应电容;其中该晶圆级感测元件,用以接收由波形产生器所产生的输入信号,使该感应电容产生电容值变化量,其中输入信号包括调变信号和激励信号,该可动单元接收调变信号,一个固定臂接收激励信号,且另一个固定臂输出由电容值变化量引起的感应信号,其中该调变信号与该激励信号的频率不同,而该测试电路根据该电容值变化量,输出测试信号,并且其中当该晶圆级感测元件的可动单元接收调变信号后,该可动单元对应产生静电力,使该感应电容产生电容值变化量;其中该测试电路包含滤波器,用以除去寄生电容相关的感应信号。
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