[发明专利]一种栅极开启电压的测量方法有效
| 申请号： | 201210428501.0 | 申请日： | 2012-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN103792473A | 公开（公告）日： | 2014-05-14 |
| 发明（设计）人： | 王明;连晓谦 | 申请（专利权）人： | 无锡华润上华科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 常亮 |
| 地址： | 214028 江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种栅极开启电压的测量方法，该测量方法通过在执行跨导法测量开启电压前，先利用一个比较子程序将小于参考值的漏源电流滤除。籍此，杜绝了因小电流波动引起的跨导返回异常值问题，从而提高了跨导法测量开启电压的准确度。同时本发明的方法还具有应用范围广、调校简单、执行效率高等特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 栅极 开启 电压 测量方法 | ||
【主权项】：
一种栅极开启电压的测量方法，其特征在于，该方法包括步骤：1）提供待测MOS晶体管；2）对所述MOS晶体管的栅极施加扫描电压，并测量该MOS晶体管的源漏极电流，绘制漏源电流‑栅极电压曲线；3）将测量得到的源漏电流与一参考值比较，如果该源漏电流大于所述参考值，执行步骤4），如果该源漏电流小于所述参考值，返回步骤2)；4）利用跨导法，在所述漏源电流‑栅极电压曲线上测量并得到开启电压。
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