[发明专利]一种同时确定地表窄波段和宽波段比辐射率的方法及装置有效
| 申请号： | 201210431019.2 | 申请日： | 2012-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN102901563A | 公开（公告）日： | 2013-01-30 |
| 发明（设计）人： | 唐伯惠;吴骅;唐荣林 | 申请（专利权）人： | 中国科学院地理科学与资源研究所 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 贾玉忠;成金玉 |
| 地址： | 100101 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种同时确定地表窄波段和宽波段比辐射率的方法及装置，包括：A）对中分辨率成像光谱仪（MODIS）数据进行数据处理，包括辐射定标、大气纠正和云掩膜处理，获取晴空条件下MODIS数据位于0.4-2.1μm大气窗口区的可见光/近红外波段地表反射率数据；B）利用步骤A的反射率数据，结合发展的窄波段比辐射率反演算法，确定MODIS热红外光谱谱段第29（波谱范围8.4-8.7μm）、31（波谱范围10.78-11.28μm）和32（波谱范围11.77-12.27μm）波段的窄波段地表比辐射率；C）利用步骤B的窄波段地表比辐射率，结合发展的窄-宽波段比辐射率转换模型，得到3-14μm以及3-∞μm的宽波段地表比辐射率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 同时 确定 地表 波段 辐射 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种同时确定地表窄波段和宽波段比辐射率的方法，其特征在于实现步骤如下：（A）．对中分辨率成像光谱仪（MODIS）数据进行数据处理，包括辐射定标、大气纠正、以及云掩膜处理，获取晴空条件下MODIS数据位于0.4‑2.1μm大气窗口区的可见光/近红外波段地表反射率数据；（B）．利用步骤A的反射率数据，结合窄波段地表比辐射率反演算法，确定MODIS热红外光谱谱段第29,即波谱范围8.4‑8.7μm、第31，即波谱范围10.78‑11.28μm和第32，即波谱范围11.77‑12.27μm波段的窄波段地表比辐射率；（C）．利用步骤B的窄波段地表比辐射率，结合窄‑宽波段比辐射率转换模型，得到地表3‑14μm以及3‑∞μm的宽波段比辐射率。
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