[发明专利]用于确定上电复位的方法和装置有效
| 申请号： | 201210433242.0 | 申请日： | 2012-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN103793032B | 公开（公告）日： | 2017-09-29 |
| 发明（设计）人： | 夏述堰;谢良;吴艳琴 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F1/24 | 分类号： | G06F1/24 |
| 代理公司： | 北京龙双利达知识产权代理有限公司11329 | 代理人： | 王君,肖鹂 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种用于确定上电复位的方法和装置。所述方法应用于一具有内存的电子设备，该内存包括校验区域，该校验区域用于存放在非上电复位中不丢失的校验基准和校验变量。所述方法包括当所述电子设备中发生复位时，读取所述校验区域中的校验变量和校验基准，对所述校验变量执行校验计算，而得到计算结果；比较所述计算结果和所述校验基准，根据所述计算结果来确定所述电子设备的复位类型是否是上电复位；以及当确定是上电复位，向所述校验区域中重新写入所述校验变量和所述校验基准，以用于下一次的复位类型确定。所述用于确定上电复位的方法和装置能够在不增加其它硬件器件的基础上进行简单、有效、可靠的上电复位类型判断。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 复位 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种确定复位类型的方法，其特征在于，该方法应用于一具有内存的电子设备，该内存包括校验区域，该校验区域用于存放在非上电复位中不丢失的校验基准和校验变量，所述校验基准是通过对所述校验变量执行校验计算而获得的，所述方法包括：当所述电子设备中发生复位时，读取所述校验区域中的校验变量和校验基准，对所述校验变量执行所述校验计算，而得到计算结果；比较所述计算结果和所述校验基准，当所述计算结果不等于所述校验基准时，确定所述电子设备的复位类型是上电复位，当所述计算结果等于所述校验基准时，确定所述电子设备的复位类型是非上电复位；以及当确定所述电子设备的复位类型是上电复位，向所述校验区域中重新写入所述校验变量和所述校验基准，以用于下一次的复位类型确定。
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