[发明专利]c轴垂直膜面取向的M型钡铁氧体薄膜的制备方法有效
申请号: | 201210436117.5 | 申请日: | 2012-11-05 |
公开(公告)号: | CN102965633A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 许志勇;兰中文;孙科;余忠;蒋晓娜;郭荣迪;李乐中 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/08;C23C14/58 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所 51215 | 代理人: | 刘勋 |
地址: | 610000 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | c轴垂直膜面取向的M型钡铁氧体薄膜的制备方法,属于电子材料技术。本发明包括以下步骤:步骤A:超声波清洗基片表面的杂质;步骤B:溅射一层厚度为20~50nm的非晶BaFe12O19缓冲层;步骤C:将基片温度继续加热到500℃,以5nm/min的溅射速率在30nm厚的非晶BaFe12O19缓冲层上继续溅射一层500-1000nm的非晶BaFe12O19薄膜;步骤D:退火晶化处理。经过本发明工艺制备出的M型钡铁氧体(BaM)薄膜,易磁化轴c轴垂直膜面取向,同时具有较高的饱和磁化强度、较好的结构和性能上的各向异性,可应用于微波/毫米波磁性器件、垂直磁记录介质材料中。 | ||
搜索关键词: | 垂直 取向 铁氧体 薄膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
c轴垂直膜面取向的M型钡铁氧体薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤A:超声波清洗,清除基片表面的杂质;步骤B:首先将溅射腔内背底气压抽到低于4.0×10‑4Pa,然后通入溅射工作气体:纯度为99.999%的高纯氩气和纯度为99.999%的高纯氧气,调节氧气气压和氩气气压比为1:99,总的溅射工作气压保持在1.4Pa;将基片温度加热到300℃,调节溅射功率为140W,以4~8nm/min的溅射速率溅射一层厚度为20~50nm的非晶BaFe12O19缓冲层;步骤C:将基片温度继续加热到500℃,以5nm/min的溅射速率在30nm厚的非晶BaFe12O19缓冲层上继续溅射一层500‑1000nm的非晶BaFe12O19薄膜;步骤D:退火晶化处理:先以5℃/min的升温速率从室温升到300℃,然后以2℃/min的速率从300℃升到800℃,再在800℃于空气气氛中保温3小时,最后随炉自然冷却至室温。
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