[发明专利]功率用半导体装置无效
申请号: | 201210436214.4 | 申请日: | 2012-11-05 |
公开(公告)号: | CN103489864A | 公开(公告)日: | 2014-01-01 |
发明(设计)人: | 山下浩明;泉沢优;小野升太郎;大田浩史 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L27/088 | 分类号: | H01L27/088;H01L29/78 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 戚宏梅;杨谦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供开关动作时的电流的时间变化小的功率用半导体装置。实施方式所涉及的功率用半导体装置具备:第一导电型的第一半导体层;第二导电型的第二半导体层,设置在上述第一半导体层之上;第一导电型的第三半导体层,设置在上述第二半导体层之上;栅电极;以及栅绝缘膜,设置在上述栅电极与上述第一半导体层、上述第二半导体层、上述第三半导体层之间。通过上述第一半导体层、上述第二半导体层、上述第三半导体层、上述栅电极以及上述栅绝缘膜,形成场效应型晶体管,第一区域中的上述晶体管的阈值比第二区域中的上述晶体管的阈值高。 | ||
搜索关键词: | 功率 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种功率用半导体装置,其中,具备:第一导电型的第一半导体层;第二导电型的第二半导体层,设置在上述第一半导体层之上;第一导电型的第三半导体层,设置在上述第二半导体层之上;第四半导体层,为第一导电型,与上述第一半导体层接触,并进入上述第二半导体层内,通过上述第二半导体层而与上述第三半导体层隔离;第五半导体层,设置在上述第四半导体层之上,与上述第三半导体层及上述第四半导体层接触,有效杂质浓度与上述第二半导体层的有效杂质浓度不同;第一栅电极,贯穿上述第三半导体层及上述第二半导体层而到达上述第一半导体层内;第一栅绝缘膜,设置在上述第一栅电极与上述第一半导体层、上述第二半导体层、上述第三半导体层之间;第二栅电极,至少配置在上述第五半导体层的正上方区域;以及第二栅绝缘膜,设置在上述第二栅电极与上述第五半导体层之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝,未经株式会社东芝许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210436214.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种飞行汽车
- 下一篇:一种治疗高血压的保健药酒及其制备方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的