[发明专利]测试片外驱动器的阻抗的电路与方法

摘要

本发明公开了一种用来验证片外驱动器的阻抗的测试电路和用来验证片外驱动器的阻抗的方法。所述测试电路包含：多个片外驱动器，每一片外驱动器包含硅通孔；参考电流测试垫，用来驱动电流到多个片外驱动器；多个前驱动器，每一前驱动器个别耦接到片外驱动器，所述多个前驱动器用来开启所述多个片外驱动器；参考电压测试垫，用以输入参考电压到所述测试电路；多个输入缓冲器，用来输出多个比较结果，每一输入缓冲器依据硅通孔节点处的电压与参考电压来输出比较结果；以及扫描输出测试垫，耦接到所述多个输入缓冲器，用来接收所述多个比较结果以判断片外驱动器的阻抗是否在所要范围内。所述测试电路可测试多个片外驱动器而不会带来相当大的金属电容。

主权项

一种测试电路，包含：多个片外驱动器，每一片外驱动器包含：一上拉驱动器，耦接到一电源；一下拉驱动器，耦接于所述上拉驱动器与一接地端之间；以及一硅通孔，耦接于所述上拉驱动器与所述下拉驱动器之间；以及多个输入缓冲器，所述多个输入缓冲器中的每一输入缓冲器包含一正输入与一负输入，其中每一输入缓冲器的所述正输入通过每一个别的片外驱动器的所述硅通孔而分别耦接到所述多个片外驱动器的其中之一；所述测试电路的特征在于还包含：多个前驱动器，所述多个前驱动器中的每一前驱动器分别耦接到所述多个片外驱动器的其中之一；一参考电流测试垫，耦接到所述多个前驱动器；一参考电压测试垫，耦接到每一输入缓冲器的所述负输入；以及一扫描输出测试垫，耦接到所述多个输入缓冲器。