[发明专利]芯片测试方法、自动化测试机和系统有效
| 申请号： | 201210441213.9 | 申请日： | 2012-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN102967815A | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 杨明庆;张炜;张君迈 | 申请（专利权）人： | 北京华大信安科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 郭放;许伟群 |
| 地址： | 100015 北京市朝阳区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了芯片测试方法、自动化测试机和系统。其中芯片测试方法包括：自动测试机ATE对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试；所述ATE在对所述ATE测试项目测试完成后，向计算机PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息；所述ATE接收所述PC根据所述命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息；所述ATE根据所述返回信息获得芯片测试结果。采用本发明提供的实施例，可以有效降低使用高端ATE设备带来的设备成本、芯片测试的人工成本和时间成本，从而降低整个芯片测试的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 自动化 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：自动测试机ATE对芯片测试所包含的ATE测试项目进行测试；所述ATE在对所述ATE测试项目测试完成后，向计算机PC发送用于触发所述PC对所述芯片测试所包含的PC测试项目进行测试的命令信息；所述ATE接收所述PC根据所述命令信息进行测试后发送的包括所述PC测试项目的测试结果的返回信息；所述ATE根据所述返回信息获得芯片测试结果。
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