[发明专利]工作点可变半导体激光器无效
| 申请号： | 201210441725.5 | 申请日： | 2012-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN103811994A | 公开（公告）日： | 2014-05-21 |
| 发明（设计）人： | 耿振民 | 申请（专利权）人： | 无锡华御信息技术有限公司 |
| 主分类号： | H01S5/06 | 分类号： | H01S5/06;H01S5/125 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 温子云 |
| 地址： | 214081 江苏省无锡市滨*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种工作点可变的半导体激光器，包括：顺序地连接的采样光栅分布式反射器、相位偏移器、增益区域、分布式反馈激光器和半导体光放大器；温度控制装置，上述采样光栅分布式反射器、相位偏移器、增益区域、分布式反馈激光器和半导体光放大器设置在温度控制装置的上方，以便进行温度控制；输出光检测器，用于检测所述光发射装置的光输出特性；波长检测器，用于检测检测所述光发射装置的输出光的工作波长；控制器，其依据所述输出光检测器和波长检测器的检测结构对所述采样光栅分布式反射器、相位偏移器、增益区域、分布式反馈激光器和半导体光放大器进行控制，以使得所述光发射装置输出期望的工作点。 | ||
| 搜索关键词： | 工作 可变 半导体激光器 | ||
【主权项】：
一种工作点可变的半导体激光器，包括：顺序地连接的采样光栅分布式反射器(SG‑DBR)、相位偏移器(PS)、增益区域、分布式反馈激光器(SG‑DFB)和半导体光放大器(SOA)；温度控制装置，上述采样光栅分布式反射器(SG‑DBR)、相位偏移器(PS)、增益区域、分布式反馈激光器(SG‑DFB)和半导体光放大器(SOA)设置在温度控制装置的上方，以便进行温度控制；输出光检测器，用于检测所述光发射装置的光输出特性；波长检测器，用于检测检测所述光发射装置的输出光的工作波长；控制器，其依据所述输出光检测器和波长检测器的检测结构对所述采样光栅分布式反射器(SG‑DBR)、相位偏移器(PS)、增益区域、分布式反馈激光器(SG‑DFB)和半导体光放大器(SOA)进行控制，以使得所述光发射装置输出期望的工作点。
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