[发明专利]轴承载荷测试结构及测试方法有效
申请号: | 201210444302.9 | 申请日: | 2012-11-08 |
公开(公告)号: | CN102967396A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 孙守光;金新灿;李强;谢基龙;刘德昆;任尊松;刘志明 | 申请(专利权)人: | 北京交通大学 |
主分类号: | G01L1/22 | 分类号: | G01L1/22 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨;王家印 |
地址: | 100044*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种轴承载荷测试结构及测试方法,所述测试结构中,所述轴承包括内环、测试外环以及多个滚子,所述测试外环固定,所述内环上加有载荷,所述测试外环的外侧表面向内设有凹槽,所述凹槽的底面上贴有应变片,所述应变片连接至信号采集装置。所述测试方法包括:准备轴承、制作测试外环、在所述凹槽的底面上贴应变片、用所述测试外环替换所述轴承的外环,得到测试用轴承、标定、实况测试以及依据标定结果,对实况测试结果进行还原等步骤。本发明提供的测试结构及测试方法,通过使得凹槽底面形成一个应力集中的区域,应变片贴在所述凹槽底面位置,能够准确地测量出轴承所承受的载荷值,适合安装在工作现场进行实况测试。 | ||
搜索关键词: | 轴承 载荷 测试 结构 方法 | ||
【主权项】:
一种轴承载荷测试结构,所述轴承包括内环、测试外环以及多个滚子,所述测试外环固定,所述内环上加有载荷,其特征在于:所述测试外环的外侧表面向内设有凹槽,所述凹槽的底面上贴有应变片,所述应变片连接至信号采集装置。
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