[发明专利]半导体测试设备无效
| 申请号： | 201210450247.4 | 申请日： | 2012-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN103121012A | 公开（公告）日： | 2013-05-29 |
| 发明（设计）人： | 李相骏;李永吉 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | B07C5/00 | 分类号： | B07C5/00;H01L21/67 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 陈源;张天舒 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体测试设备，这种半导体测试设备能够解决安装故障问题，由此提高半导体器件的质量并且增加处理量。该半导体测试设备包括上面安装有定制托盘的板、连接到所述板以转移所述板的搬运器、以及在所述板被转移时振动所述板的振动器。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种半导体测试设备，包括：上面安装有定制托盘的板；连接到所述板以转移所述板的搬运器；以及在所述板被转移时振动所述板的振动器。
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