[发明专利]基于压缩采样与时域展宽技术的微波光子测频装置及其方法有效
| 申请号： | 201210455785.2 | 申请日： | 2012-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN102932067A | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 陈莹;池灏;章献民;金晓峰;郑史烈 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | H04B10/516 | 分类号： | H04B10/516;H04B1/00 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于压缩采样与时域展宽技术的微波光子测频装置及其方法。超连续谱光源通过色散介质在时间上得到展宽,实现频率到时间的映射。待测微波信号通过马赫增德尔调制器调制在经过时间展宽的光载波上。调制后的光信号，再经过色散介质将已调光信号进一步展宽，降低了待测微波信号的频率。带有±1的随机比特序列通过马赫增德尔调制器调制在展宽后的光信号上，经光电转换，低通滤波器，电子模数转换器得到带有待测信号信息的观测数据。通过现有的压缩采样恢复算法可以恢复原信号的频谱。现有的基于压缩采样的测频技术要求将原信号调制在达到奎斯特频率的随机比特序列上。本发明可以降低所需随机比特序列的频率，同时进一步降低了系统中模数转换器的采样频率从而提高系统的可行性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 压缩 采样 时域 展宽 技术 微波 光子 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种基于压缩采样与时域展宽技术的微波光子测频装置，其特征在于包括待测微波信号（13）、观测矩阵模块（14）、观测信号（15）、数字信号处理模块（16）、信号输出口（17）；待测微波信号（13）经观测矩阵模块（14）产生观测信号（15）再通过数字信号处理模块（16）由信号输出口（17）输出；观测矩阵模块（14）包括超连续谱光源（1），第一色散介质（2），第一马赫增德尔调制器（3）、第二色散介质（4）、第二马赫增德尔调制器（5）、高速光电探测器（6）、低通滤波器（7）、电子模数转换器（8）、第一马赫增德尔调制器的射频输入口（9）、第一马赫增德尔调制器的偏执电压输入口（10）、第二马赫增德尔调制器的射频输入口（11）、第二马赫增德尔调制器的偏执电压输入口（12）；超连续谱光源（1）、第一色散介质（2）、第一马赫增德尔调制器（3）、第二色散介质（4）、第二马赫增德尔调制器（5）、高速光电探测器（6）、低通滤波器（7）、电子模数转换器（8）顺次相连；第一马赫增德尔调制器（3）上设有第一马赫增德尔调制器的射频输入口（9）、第一马赫增德尔调制器的偏执电压输入口（10），第二马赫增德尔调制器（5）上设有第二马赫增德尔调制器的射频输入口（11），第二马赫增德尔调制器的偏执电压输入口（12）。
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